當(dāng)X射線穿透物質(zhì)時(shí)，由于射線與物質(zhì)之間的相互作用，將產(chǎn)生一系列極其復(fù)雜的物理過(guò)程。
射線被吸收和散射并且損失一些能量，強(qiáng)度相應(yīng)地減弱。這種現(xiàn)象稱(chēng)為射線衰減。
X射線檢測(cè)的本質(zhì)是基于被檢測(cè)工件與內(nèi)部介質(zhì)不足之間的射線能量衰減差異。這種差異將在輻射穿透工件后引起強(qiáng)度差異，因此，由于缺乏輻射而導(dǎo)致的潛像。在暗室中處理過(guò)的感光材料（膠片）上會(huì)獲得投影。獲取缺陷圖像后，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評(píng)估工件內(nèi)部缺陷的性質(zhì)和負(fù)片的水平。對(duì)于某些無(wú)法通過(guò)外觀檢測(cè)到的物品或無(wú)法到達(dá)檢測(cè)位置的物品，X射線具有很強(qiáng)的穿透能力，因?yàn)閄射線穿透的材料的密度不同，因此光強(qiáng)度也不同。X射線檢測(cè)可以將這些不同的光強(qiáng)度形成為對(duì)應(yīng)的圖像，從而可以清楚地顯示待測(cè)對(duì)象的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，從而在不損壞待測(cè)對(duì)象的情況下實(shí)現(xiàn)了對(duì)對(duì)象的檢測(cè)。
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